Reflektometry pozwalają na szybki, optyczny, bezkontaktowy pomiar cienkich, transparentnych powłok. Umożliwiają pomiar właściwości powłok takich jak:
- grubość
- współczynniki załamania i absorpcji (“n” i “k” )
- reflektancja ( procentowa ilość światła odbijanego )
- transmitancja ( procentowa ilość światła przepuszczanego )
Modele
F3-CS
- przenośny
- zasilany jedynie przez USB
- szybki pomiar reflektancji i/lub transmitancji (opcjonalnie grubości i współczynników załamania i absorpcji)
Zakres pomiaru grubości
F3-sX
- pomiary głownie w podczerwieni
- dedykowany do pomiarów półprzewodników
- nawet dla powłok o grubościach do 3mm
- pomiar grubości,reflektancji, transmitancji
Zakres pomiaru grubości
F10-RT
- pomiar reflektancji i transmitancji po jednym kliknięciu myszką (opcjonalnie grubości i współczynników załamania i absorpcji)
Zakres pomiaru grubości
F10-AR
- dedykowany do pomiarów powłok antyrefleksyjnych oraz typu hardcoat
- pomiar barwy powłoki
- szybki pomiar reflektancji i/lub transmitancji (opcjonalnie grubości)
Zakres pomiaru grubości
F20
- najbardziej uniwersalny system
- szereg opcjonalnych akcesoriów
- pomiar grubości,reflektancji, transmitancji, współczynników załamania i absorpcji
Zakres pomiaru grubości
F30
- pomiar ciągły (np. podczas procesu nanoszenia warstwy)
- pomiar prędkości osadzania, grubości i współczynników załamania i absorpcji
Zakres pomiaru grubości
F40
F40
- integrowalny z mikroskopem świetlnym
- plamka pomiarowa min. 1um
- pomiar grubości,reflektancji,współczynników załamania i absorpcji
Zakres pomiaru grubości
- automatyczny stolik pozwalający na mapowanie powierzchni nawet do 450mm średnicy
- pomiar grubości,reflektancji, współczynników załamania i absorpcji
Zakres pomiaru grubości
Dodatkowe informacje
Reflektometry w metodzie pomiarów wykorzystują światło odbite od warstwy, a następnie analizują światło odbite w pewnym zakresie długości fal. Poniżej przedstawiono również porównania reflektometrii z technikami takimi jak elipsometria i profilometria.
Urządzenia Filmetrics wykorzystują odbicie światła od cienkiej warstwy, a następnie analizują to światło w pewnym zakresie długości fal.
Zarówno elipsometry jak i reflektometry analizują światło odbite w celu określenia grubości i wyznaczenia współczynnika załamania światła przez dielektryki, półprzewodniki i cienkie warstwy metali. Podstawową różnicą pomiędzy tymi dwoma technikami jest to, że elipsometry wykorzystują światło odbite od warstwy pod małym kątem padania, natomiast reflektometry światło, które odbija się prostopadle do warstwy.
Różnica w kącie padania światła prowadzi do różnic w kosztach, złożoności i możliwości tych dwóch technik. Ponieważ światło elipsometru padają pod kątem, polaryzacja światła odbitego musi zostać przeanalizowana,
podobnie jego intensywność, co daje większe możliwości pomiaru bardzo cienkich i skomplikowanych warstw jak również złożonych warstw. Analiza polaryzacji oznacza również, że niezbędne są drogie, precyzyjnie ruchome elementy optyczne.
Za pomocą światła, które jest prostopadłe do warstwy, reflektometria może ignorować efekty polaryzacyjnye. Tak więc, reflektometr nie musi posiadać elementów ruchomych, a więc kontrukcja urządzeń jest prostsza, ia co z tym związane koszty urządzeń są niższe. być zrealizowane bez ruchomych części, co powoduje znacznie prostsze i instrumentów niższych kosztach. Systemy SR można także z łatwością obejmują analizę przepuszczalności dla jeszcze większej mocy.
| Reflektometria | Elipsometria | |
| Zakres mierzonych grubości: | 1nm – 1mm (niemetale)
0.5nm – 50nm (metale) | 0.1nm – 0.01mm ( niemetale )
0.1nm – 50nm ( metale ) |
| Wymagana grubość dla pomiaru współczynnika: | >20nm ( niemetale )
5nm – 50nm ( metale ) | >5nm ( niemetale )
>0.5nm ( metale ) |
| Prędkość pomiaru: | ~0.1 – 5 sekund na lokalizację | ~1 – 300 sekund na lokalizację |
| Special Training: | Nie | Wymagany dla specjalnych aplikacji |
| Ruchome części: | Nie | Precyzyjna optyka |
| Cena podstawowego urządzenia: | ~65 tys. zł | ~200 tys. zł |
Profilometria mechaniczna jest łatwą do zrozumienia techniką do pomiaru grubości powłok. Jej działanie polega na monitorowaniu wysokość rysika, wzdłuż warstwy. Podstawową zaletą profilometrii mechanicznej, że może ona być stosowana w przypadku wszyskich stałych warstw, takich jak grube warstwy metalowe.
Istnieją jednak wady tej metody. Najważniejsza to taka, że błędy kalibracji i dryftu mechanicznego, często mogą prowadzić do znacznych błędów w mierzonej grubości.
W przeciwieństwie, reflektometria jest techniką bezkontaktową, która nie wymaga przygotowania próbki do pomiaru grubości. Światło, które odbija się od warstwy badane jest w około jedną sekundę, określana jest zarówno grubość warstwy jak i współczynnik załamania. Struktury wielowarstwowej mogą być również mierzone tą techniką.
| Reflektometria | Elipsometria | |
| Zakres mierzonych grubości : | 1nm – 3mm ( niemetale )
0.5nm – 50nm ( metale ) | 2nm – 0.5mm ( metale ) |
| Pomiar wielu warstw: | Tak | Nie |
| Mierzony współczynnik załamania swiatła: | Tak | Nie |
| Powtarzalność (500nm SiO2): | 0.1nm | 0.5nm |
| Prędkość pomiaru : | <1 sek | ~5 – 30 sek |
| Wymagane przygotowanie próbki: | Nie | Tak |
| Ruchome części : | Nie | Tak |
| Cena podstawowego urządzenia : | ~50 tys. zł | ~200 tys. zł |