Accurion

Mikroskop kąta Brewstera

det-ie-ultrabam-neu

ULTRABAM

ep4bam

EP4BAM

Potrzebujesz informacji?

Zostaw swój kontakt, odezwiemy się

ULTRABAM

Ultrabam jest mikroskopią kąta Brewstera zaprojektowaną dla interfejsu powietrze/ ciecz. Pozwala to na bezpośrednią wizualizację monowarstw Langmuir’a lub adsorbowanych warstw. Współpracuje również z podłożami dielektrycznymi jak szkło, kwarc lub podobnymi materiałami. Nanofilm_ultrabam łączy wysoką rozdzielczość z ostrością obrazów w czasie rzeczywistym. 

Wysoka ostrość obrazu w czasie rzeczywistym

Zaawansowana optyka pozwala otrzymać w pełni ostre obrazy na poziomie 20-35 klatek na sekundę. Wysokie możliwości aparatu i specyficzny algorytm kalibracji pozwalają na pomiary ilościowe odbicia. Kinetyka adsorpcji i zmiana grubości może być monitorowana. Aparat zawiera zmotoryzowany analizator do wizualizacji optycznej anizotropii spowodowanej molekularną orientacją dalekiego zasięgu w monowarstwach. Potężne oprogramowanie sprawia, że pomiar jest łatwy i wygodny. Jako pełne rozwiązanie, system zawiera komputer, elektronikę i całe potrzebne oprogramowanie niezbędne do rozpoczęcia pomiaru. Nanofilm_ultrabam jest zaprojektowany jako mikroskop kąta Brewstera, który nie może być rozbudowany do elipsometru.

Główne cechy

  • w pełni ostre obrazy w czasie rzeczywistym bez skanera,
  • rozdzielczość do 2 mikronów,
  • interfejs oprogramowania dla systemów głównych minimów,
  • rejestrator AVI,
  • zmienny kąt padania w zakresie od 52° do 57°,
  • duże pole widzenia,
  • nadaje się do obrazowania warstw anizotropowych,
  • pliki graficzne zawierają dane minimum (ciśnienie powierzchniowe, średnia powierzchnia molekularna, itp.).

EP4BAM

Nanofilm_ep4bam jest specjalnie skonfigurowaną platformą EP4 wykorzystującą techniki elipsometryczne. To świetne rozwiązanie do badania cienkich filmów. Urządzenia te mogą być ulepszone do elipsometru obrazującego. System jest w pełni automatyczny i kontrolowany za pomocą komputera z zastosowaniem opatentowanego, silnikowego układu sterowania.

Nanofilm_ep4bam wyświetla obrazy próbki w czasie rzeczywistym na monitorze, udostępniając odpowiednie funkcje przetwarzania obrazu. Skaner umożliwia uzyskiwanie całkowicie wyostrzonego obrazu z głębi pola. Połączenie zielonego lasera o wysokiej mocy z doskonałymi obiektywami pozwala uzyskać rozdzielczość rzędu 1 mikrona, czyli w granicach ograniczenia optycznego detektora CCD. Oprogramowanie sprawia, że pomiar jest łatwy i wygodny. Kompletne rozwiązanie zawiera: komputer, elektronikę i całe potrzebne do rozpoczęcia pomiaru oprogramowanie na posiadanej wannie albo na zintegrowanej wannie. Zintegrowana wanna jest opcją dodatkową i nie jest zawarta w standardowym zestawie.

Kluczowe cechy

  • transformacja struktur wielowarstwowych do monowarstwy,
  • reakcja fotochemiczna (np. fotoizomeryzacja),
  • warstwy LB na stałych strukturach,
  • wpływy oz różnym składzie przejściowym (przeciwjony) na strukturach jednowarstwowych,
  • polimery i inne materiały, które nie mogą być wykryte przez mikroskopię fluorescencyjną,
  • kinetyka adsorpcji,
  • polimeryzacja in-situ w monowarstwie,
  • rozdzielenie faz,
  • jakość i jednorodność warstw LB.

Aplikacje

W budowie

Dodatkowe informacje

Mikroskopia kąta Brewstera (BAM)

BAM, czyli mikroskopia kąta Brewstera, to jedna z technik obserwacyjnych stosowanych w celu bezpośredniej wizualizacji monowarstw na granicy faz powietrze-woda lub na granicy faz powietrze-szkło w konkretnych warunkach. Technika BAM jest powszechnie wykorzystywana do określania monowarstw Langmuira, ponieważ podczas obserwacji nie stosuje się barwników fluorescencyjnych, nie wpływa to więc na zachowanie fazowe monowarstwy.

Działanie mikroskopu kąta Brewstera opiera się na zasadzie, że światło spolaryzowane padające pod odpowiednim kątem na powierzchnię dielektryka jest wygaszane. Zasada ta związana jest z prawem Snelliusa, które dotyczy współczynnika załamania światła.

Prawo Snelliusa: tanθ=n2/n1.

gdzie:

θ -kąt Brewstera w radianach

n1-współczynnik załamania światła powietrza

n2-współczynnik załamania światła wody

Wartość kąta Brewstera dla granicy faz powietrze-woda wynosi 53°. W takich warunkach obserwację umożliwia dodanie warstwy pomiędzy ośrodkami, która wpłynie na zmianę współczynnika załamania światła. Dzięki temu światło odbija się od powierzchni i pozwala na obrazowanie.

Przykłady zastosowania mikroskopii BAM

  • określanie stanu monowarstwy,
  • obserwacja struktur trójwymiarowych,
  • detekcja przejść fazowych w obrębie monowarstwy oraz obserwacja zmian wielkości i kształtu domen fazy skondensowanej,
  • badanie separacji fazowej,
  • badanie organizacji cząsteczek w obrębie domen skondensowanych.

Technolutions sp. z o. o.

Otolice 38

99-400 Łowicz

 

 

tel.: +48 606 440 718

e-mail: kontakt@technolutions.pl

Technolutions 2022 © wszelkie prawa zastrzeżone