Ultratwardościomierz w nanoskali (UNHT)
Głowica UNHT to nanotwardościomierz o ultra-wysokiej rozdzielczości, który jest stosowany do badania mechanicznych właściwości materiałów w nanoskali. W systemie został wyeliminowany efekt dryftu termicznego dzięki unikalnemu opatentowanemu aktywnemu systemowi referencji do powierzchni próbki. Dlatego też doskonale nadaje się do długotrwałych pomiarów wszystkich rodzajów materiałów, w tym polimerów, bardzo cienkich i miękkich warstw i powłok.
Unikalny projekt, najwyższa rozdzielczość
- System z aktywną referencją do powierzchni próbki (opatentowane rozwiązanie). Wgłębnik referencyjny może spoczywać na próbce przez cały czas pomiaru. To właśnie względem jego położenia odbywa się precyzyjny pomiar zagłębienia wgłębnika.
- Brak dryftu termicznego
– Głowica wykonana ze szkła ZeroDur® w połączeniu z system elektroniczny ma współczynnik dryftu ≈ 1 ppm/°C
– Największa sztywność ramy nośnej dzięki platformie z syntetycznego granitu, wyborowi materiałów (ZeroDur®) i opatentowanej aktywnej referencji. - Dwa niezależne czujniki głębokości i obciążenia: ultra-wysoka rozdzielczość czujnika pojemnościowego w trybach „True Depth” (Rzeczywista głębokość) i „Load Control” (Kontrola obciążenia – układ piezoelektryczny).
- Ultra-wysoka rozdzielczość i bardzo niski poziom szumu bazowego.
Rozdzielczość głębokości: 0,001 nm, szum bazowy ≈ 0,1 nm
Rozdzielczość siły: 0,01 μN, szum bazowy ≈ 0,5 µN - Perfekcyjna synchronizacja pozycji próbki i miejsca testu dzięki wysokiej jakości optycznemu wideomikroskopowi i opcjonalnemu mikroskopowi sił atomowych (AFM). Połączenie głowicy ultra-nanotwardościomierza, mikroskopu optycznego oraz AFM zapewnia szeroki zakres zastosowań i łatwość użytkowania, jak również dokładność trójwymiarowego obrazowania w nanoskali.
- Zgodność z normami ISO 14577 i ASTM E2546.
Opcje:
- obudowa podciśnieniowa lub odporna na wpływy środowiska (wilgotność, temperatura),
- obudowa tłumiąca hałas.
- mikroskop sił atomowych.
| Siła | |
|---|---|
| Maks. siła | 100 mN |
| Rozdzielczość | 3 nN |
| Głębokość | |
| Maks. głębokość | 100 μm |
| Rozdzielczość | 0,003 nm |
| Sztywność ramy nośnej | >> 108 N/m |
| Normy międzynarodowe | ISO 14577, ASTM E2546 itp. |