Ultra nano twardościomierz

Ultratwardościomierz w nanoskali (UNHT)

Głowica UNHT to nanotwardościomierz o ultra-wysokiej rozdzielczości, który jest stosowany do badania mechanicznych właściwości materiałów w nanoskali. W systemie został wyeliminowany efekt dryftu termicznego dzięki unikalnemu opatentowanemu aktywnemu systemowi referencji do powierzchni próbki. Dlatego też doskonale nadaje się do długotrwałych pomiarów wszystkich rodzajów materiałów, w tym polimerów, bardzo cienkich i miękkich warstw i powłok.

Unikalny projekt, najwyższa rozdzielczość

• System z aktywną referencją do powierzchni próbki (opatentowane rozwiązanie). Wgłębnik referencyjny może spoczywać na próbce przez cały czas pomiaru. To właśnie względem jego położenia odbywa się precyzyjny pomiar zagłębienia wgłębnika.
• Brak dryftu termicznego
  – Głowica wykonana ze szkła ZeroDur® w połączeniu z system elektroniczny ma współczynnik dryftu ≈ 1 ppm/°C
  – Największa sztywność ramy nośnej dzięki platformie z syntetycznego granitu, wyborowi materiałów (ZeroDur®) i opatentowanej aktywnej referencji.
• Dwa niezależne czujniki głębokości i obciążenia: ultra-wysoka rozdzielczość czujnika pojemnościowego w trybach „True Depth” (Rzeczywista głębokość) i „Load Control” (Kontrola obciążenia – układ piezoelektryczny).
• Ultra-wysoka rozdzielczość i bardzo niski poziom szumu bazowego.
  Rozdzielczość głębokości: 0,001 nm, szum bazowy ≈ 0,1 nm
  Rozdzielczość siły: 0,01 μN, szum bazowy ≈ 0,5 µN
• Perfekcyjna synchronizacja pozycji próbki i miejsca testu dzięki wysokiej jakości optycznemu wideomikroskopowi i opcjonalnemu mikroskopowi sił atomowych (AFM). Połączenie głowicy ultra-nanotwardościomierza, mikroskopu optycznego oraz AFM zapewnia szeroki zakres zastosowań i łatwość użytkowania, jak również dokładność trójwymiarowego obrazowania w nanoskali.
• Zgodność z normami ISO 14577 i ASTM E2546.

Opcje:

• obudowa podciśnieniowa lub odporna na wpływy środowiska (wilgotność, temperatura),
• obudowa tłumiąca hałas.
• mikroskop sił atomowych.

Siła
Maks. siła	100 mN
Rozdzielczość	3 nN
Głębokość
Maks. głębokość	100 μm
Rozdzielczość	0,003 nm
Sztywność ramy nośnej	>> 108 N/m
Normy międzynarodowe	ISO 14577, ASTM E2546 itp.