Tester zarysowania w makroskali – Revetest (RST)
Urządzenie REVETEST jest systemem pozwalającym na badania adhezji i odporności na zarysowania powłok. Pozwala także na przeprowadzanie klasycznego pomiaru twardości Vickersa, oraz stosowanie trybu tribologicznego (badania odporności na zużycie) w ruchu liniowym, posuwisto-zwrotnym.
Scratch Testery firmy Anton Paar to instrumenty do badania warstw i powłok za pomocą testu zarysowania. Wgłębnik diamentowy jest przeciągany po powierzchni próbki z zadanym stałym lub zmiennym obciążeniem, prowadząc do zerwania powłoki. Siła nacisku wgłębnika jest kontrolowana w sposób ciągły pętlą sprzężenia zwrotnego, co pozwala badać również powierzchnie zakrzywione, pochyłe lub chropowate (do różnicy 2mm wysokości na drodze zarysowania). W czasie testu oprogramowanie rejestruje: obciążenie, siłę tarcia, głębokość penetracji oraz natężenie emisji akustycznej i wyświetla wszystkie dane na jednym wykresie, idealnie dopasowanym do zdjęcia panoramicznego całego zarysowania. Dzięki takiemu opatentowanemu rozwiązaniu można określić przyczepność warstw do podłoży oraz tzw. obciążenia krytyczne prowadzące do pęknięcia lub zerwania warstwy. Ponadto, uzyskane charakterystyki wraz z analizą powstałej rysy przy pomocy zintegrowanego mikroskopu optycznego są źródłem informacji o charakterze zużycia badanej warstwy. Revetest służy do wykonywania zarysowań z wykorzystaniem obciążeń od 1-200N.
Zgodność z normami ASTM C1624, ISO 20502 i ISO EN 1071 i wewnętrznymi normami naszych partnerów przemysłowych.
Dodatkowe informacje
- metoda zarysowania wgłębnikiem z końcówką diamentową – np. Rockwell,
- sterowanie siłą normalną w pętli sprzężenia zwrotnego,
- wytrzymały, automatyczny stolik przesuwany w osi X i Y do 2kg,
- długotrwała stabilność kalibracji,
- czujnik emisji akustycznej,
- tryb konwencjonalnego badania twardości Vickersa,
- tryb tribologiczny: badania odporności na ścieranie w ruchu posuwisto-zwrotnym
- pomiar głębokości penetracji,
- szeroki wybór rodzajów i wielkości wgłębników.
- mikroskop optyczny z opatentowanym zsynchronizowanym trybem panoramicznym,
- obiektyw x5, x10, x20, x50 lub x100 (do 4 obiektywów),
- moduł pomiarowy tarcia,