Wizualizacja powierzchni i struktury

ZOBACZ WIĘCEJ
01

ULTRABAM


Ultrabam jest mikroskopią kąta Brewstera zaprojektowaną dla interfejsu powietrze/ ciecz. Pozwala to na bezpośrednią wizualizację monowarstw Langmuir’a lub adsorbowanych warstw. Współpracuje również z podłożami dielektrycznymi jak szkło, kwarc lub podobnymi materiałami. Nanofilm_ultrabam łączy wysoką rozdzielczość z ostrością obrazów w czasie rzeczywistym.

Wysoka ostrość obrazu w czasie rzeczywistym
Zaawansowana optyka pozwala otrzymać w pełni ostre obrazy na poziomie 20-35 klatek na sekundę. Wysokie możliwości aparatu i specyficzny algorytm kalibracji pozwalają na pomiary ilościowe odbicia. Kinetyka adsorpcji i zmiana grubości może być monitorowana. Aparat zawiera zmotoryzowany analizator do wizualizacji optycznej anizotropii spowodowanej molekularną orientacją dalekiego zasięgu w monowarstwach. Potężne oprogramowanie sprawia, że pomiar jest łatwy i wygodny. Jako pełne rozwiązanie, system zawiera komputer, elektronikę i całe potrzebne oprogramowanie niezbędne do rozpoczęcia pomiaru. Nanofilm_ultrabam jest zaprojektowany jako mikroskop kąta Brewstera, który nie może być rozbudowany do elipsometru.

Główne cechy

  • w pełni ostre obrazy w czasie rzeczywistym bez skanera,
  • rozdzielczość do 2 mikronów,
  • interfejs oprogramowania dla systemów głównych minimów,
  • rejestrator AVI,
  • zmienny kąt padania w zakresie od 52° do 57°,
  • duże pole widzenia,
  • nadaje się do obrazowania warstw anizotropowych,
  • pliki graficzne zawierają dane minimum (ciśnienie powierzchniowe, średnia powierzchnia molekularna, itp.).

EP4BAM

Nanofilm_ep4bam jest specjalnie skonfigurowaną platformą EP4 wykorzystującą techniki elipsometryczne. To świetne rozwiązanie do badania cienkich filmów. Urządzenia te mogą być ulepszone do elipsometru obrazującego. System jest w pełni automatyczny i kontrolowany za pomocą komputera z zastosowaniem opatentowanego, silnikowego układu sterowania.

Nanofilm_ep4bam wyświetla obrazy próbki w czasie rzeczywistym na monitorze, udostępniając odpowiednie funkcje przetwarzania obrazu. Skaner umożliwia uzyskiwanie całkowicie wyostrzonego obrazu z głębi pola. Połączenie zielonego lasera o wysokiej mocy z doskonałymi obiektywami pozwala uzyskać rozdzielczość rzędu 1 mikrona, czyli w granicach ograniczenia optycznego detektora CCD. Oprogramowanie sprawia, że pomiar jest łatwy i wygodny. Kompletne rozwiązanie zawiera: komputer, elektronikę i całe potrzebne do rozpoczęcia pomiaru oprogramowanie na posiadanej wannie albo na zintegrowanej wannie. Zintegrowana wanna jest opcją dodatkową i nie jest zawarta w standardowym zestawie.

Kluczowe cechy

  • transformacja struktur wielowarstwowych do monowarstwy,
  • reakcja fotochemiczna (np. fotoizomeryzacja),
  • warstwy LB na stałych strukturach,
  • wpływy oz różnym składzie przejściowym (przeciwjony) na strukturach jednowarstwowych,
  • polimery i inne materiały, które nie mogą być wykryte przez mikroskopię fluorescencyjną,
  • kinetyka adsorpcji,
  • polimeryzacja in-situ w monowarstwie,
  • rozdzielenie faz,
  • jakość i jednorodność warstw LB.