Leica Microsystems

Mikroskopy metalograficzne

MIKROSKOPY DUŻYCH POWIĘKSZEŃ

Mikroskopy metalograficzne to klasa mikroskopów służących do badań na próbkach nieprzezroczystych. Dzięki mikroskopom metalograficznym można przeprowadzać szereg obserwacji na zgładach metalowych bądź przełomach np. wykrywanie mikropęknięć, obliczenia udziałów fazowych, obserwacja wtrąceń i innych cech materiałowych. Mikroskopy metalograficzne znajdują zastosowanie w dziedzinach, takich jak: nauka o materiałach i ziemi, przemyśle zegarmistrzowskim, inżynierii, motoryzacji i transporcie, produkcji urządzeń medycznych, , obróbce metali i elektronice.

Rozwiązania charakterystyczne dla mikroskopów metalograficznych

Polaryzacja – Jest techniką obserwacji stosowaną w metalografii, ale nie tylko. Można ją również wykorzystać np. w przemyśle włókienniczym czy szklarskim, paleontologii i inżynierii materiałowej, fizyce, konserwacji sztuki czy kryminalistyce.

Mikroskopy wyposażone w tą technikę posiadają dwa filtry polaryzacyjne. Jeden znajdujący się między źródłem światła i analizowaną próbką nazywany jest polaryzatorem, analizator będący drugim filtrem znajduje się pomiędzy próbką a tubusem. Polaryzator i analizator przepuszczają tylko tę część światła, która ma ściśle określoną polaryzację. Jeśli próbka jest dwójłomna (posiada zdolność do podwójnego załamywania światła), wówczas przynajmniej część światła przechodzi przez analizator i dociera do oka obserwatora lub detektora.

Reflektor Smitha – Umożliwia analizę próbek izotropowych w jednolicie ciemnym odcieniu dzięki zastosowaniu dodatkowego lustra pod kątem 22,5 z którego pod tym samym kątem odbijane jest światło na szklaną płytkę. Płytka działa w taki sam sposób jak powlekany odbłyśnik płasko-szklany 45 ° jednak wiązka padająca ze światła spolaryzowanego podlega mniejszej rotacji.

Dlaczego warto korzystać z mikroskopów metalograficznych Leica?

Leica Microsystems oferuje najbardziej zaawansowane układy optyczne umożliwiające złożone badania materiałowe m.in. analizy ziaren, faz i wtrąceń z opracowaniem statystycznym.

Systemy dedykowane dla mikroskopii metalograficznej firmy Leica Microsystems dostarczają wszystkich istotnych danych umożliwiających najlepszą optymalizację pracy.

Zalety mikroskopów metalograficznych

Oprogramowanie mikroskopów metalograficznych daje możliwość łatwej obsługi i generowania dokładnych i powtarzalnych wyników. Odgrywa ono kluczową rolę w mikroskopii metalograficznej. Wspomaga użytkowników na wiele sposobów, przykładowo zmniejszając złożoną operację do jednego kliknięcia.

LAS X

Leica Application Suite (LAS X) to oprogramowanie dedykowane do metalografii i analizy materiałowej. Dzięki możliwości rozszerzenia o szereg zaawansowanych modułów i aplikacji, umożliwia tworzenie potężnego środowiska obrazowania mikroskopowego. Każdy moduł LAS X zapewnia elastyczność w dostosowaniu rozwiązania do indywidualnych potrzeb.

Las X Moduły i aplikacje

LAS X Steel Expert

LAS X Steel Expert pomaga dokładnie i szybko ocenić wtrącenia niemetaliczne.

Moduł pozwala na zoptymalizowanie przepływu pracy dzięki inteligentnemu i intuicyjnemu interfejsowi oprogramowania a także szybkie zdefiniowanie wielu obszarów do zeskanowania zarówno na jednej jak i na kilku próbkach.

Moduł spełnia międzynarodowe, lokalne i organizacyjne normy, niezależnie od tego, czy jest to branża motoryzacyjna, transportowa, metalurgiczna czy budowlana.

 
LAS X Grain Expert

LAS X Grain Expert umożliwia szybkie wykonywanie analiz konstrukcyjnych stali i innych materiałów. Wiele struktur i typów próbek można badać przy użyciu bardzo dokładnych algorytmów służących do wykrywania krawędzi, a także bezpośredniego pomiaru powierzchni ziarna. Moduł umożliwia również analizę tradycyjnymi metodami

stereologicznymi, takimi jak przechwytywanie liniowe Heyn, planimetryczne Jeffriesa i trój etapową procedurę Abramsa umożliwiającymi szybkie obliczanie wielkości ziaren.

LAS X Grain Expert obejmuje wiele międzynarodowych standardów analizy metalograficznej wielkości ziarna, takich jak ASTM E112, DIN / EN / ISO 643, GOST 5639 i JIS G0551.

Normy pochodne lub pokrewne również w tym ASTM E1382 lub ASTM E930.

LAS X Phase Expert

LAS X Phase Expert to moduł do zaawansowej analizy wielu faz i składników mikrostruktury.

Automatycznie i dokładnie oblicza procent powierzchni metali, minerałów i innych materiałów. Bardzo dokładne algorytmy modułu Phase Expert pozwalają na szczegółowe badanie faz, z reguły wykazujących niewielkie różnice. Wyniki zwykle oblicza się jako procent poszczególnych faz w obserwowanej mikrostrukturze.

Oprócz tradycyjnej analizy fazowej oprogramowanie zapewnia dodatkowe możliwości pomiaru i oceny innych parametrów geometrycznych i morfologicznych analizowanych materiałów.

LAS X 2D

LAS X 2D został opracowany specjalnie w celu połączenia dokładnych pomiarów obiektów i powierzchni z wysoką elastycznością w celu dostosowania automatycznych analiz do konkretnych potrzeb użytkownika. Różne przedmioty i cechy, takie jak cząstki, pyłki, włókna, ubytki w materiale czy jego porowatość mogą być analizowane zgodnie z właściwościami geometrycznymi i morfologicznymi, a także właściwościami fizycznymi, takimi jak intensywność lub kolor.

LAS X Reticule

LAS X Reticule Dzięki cyfrowym siatkom optycznym moduł umożliwia znaczną poprawę ergonomii pomagając użytkownikom utrzymać stałą dokładność pomiarów w czasie wykonywania analizy. Siatka cyfrowa wyświetla interesujące cechy bezpośrednio na obrazie wyświetlanym na monitorze. Moduł zapewnia ponad 50 cyfrowych siatek w tym konkretne rozwiązania do analizy faz, analizy wielkości ziarna i oceny włączenia niemetalicznego zgodnie z różnymi międzynarodowymi standardami.

LAS X Cast Iron Expert

LAS X Cast Iron Expert pozwala na szybką analizę mikrostruktur grafitowych (sferoidalnych, plastycznych i zagęszczonych) w żeliwie. Moduł automatycznie określa rodzaj, kształt, rozmiar i rozkład grafitowych guzków.

Unikalne algorytmy wykrywania modułu LAS X Cast Iron Expert pozwalają na szybką analizę grafitu, ferrytu i perlitu równolegle. To oprogramowanie może być również użyte do oceny szerokiej gamy innych parametrów geometrycznych i morfologicznych.

LAS X Metallography Toolbox

Jest elastycznym narzędziem do analizy strukturalnej opartej na stereologii.

Zwiększa możliwości modułu pomiarowego LAS X 2D wprowadzając wszechstronny zestaw narzędzi do analizy stereologicznej próbek metalograficznych i metalurgicznych.

Las X Metallography Toolbox można również przekształcić w dedykowane narzędzie do szerokiej gamy zastosowań w metalografii i materiałoznawstwie.

Moduł upraszcza proces manualnego definiowania parametrów skalibrowanych pomiarów, takich jak długości linii bazowych, przecięć liniowych, zliczeń punktowych czy grubości powłok wielowarstwowych.

LAS X Decarburization Expert

LAS X Decarburization Expert służy do analizy zubożenia węgla lub hartowania cieplnego stali na którą bezpośredni wpływ ma proces odwęglania.

Moduł analizuje funkcjonalną głębokość odwęglenia, na której pierwotne właściwości materiału nie mają wpływu.

Zaawansowane algorytmy modułu automatycznie korelują parametry podane dla specyfikacji materiału i produktu obliczając wynik końcowy.

LIBS – Laserowa Spektroskopia Rozpadu

Oprogramowanie Cleanliness Expert w połączeniu z systemem laserowej spektroskopii rozpadu (LIBS) umożliwia kontrolę wizualną i chemiczną w urządzeniu 2 w 1 umożliwiającym dokładne sklasyfikowanie rodzaju zanieczyszczenia i jego źródła.

Dodatkowo LIBS umożliwia uzyskanie chemicznego składu cząsteczki bez przenoszenia próbki do mikroskopu elektronowego bądź innych urządzeń.

Analiza odbywa się bez przygotowywania próbki bądź regulacji systemu

90% procent oszczędności czasu względem analizy standardowym systemem SEM.

DVM6-2

Leica DVM6

Leica_M80_M60_M50_modular-stereomicroscope_list

M50, M60 oraz M80

LIBS_DM6_M_02

Leica DM4/DM6

image-19

Leica DMi8 M

image-20

Leica DM2700 M

image-21

Leica DM ILM

Potrzebujesz informacji?

Zostaw swój kontakt, odezwiemy się
Leica DVM6

Dzięki DVM6 można błyskawicznie przejść z pełnego obrazu do najmniejszych szczegółów. Możliwa jest bezproblemowa kontynuacja pracy, nawet jeśli wymagana jest zmiana obiektywu, ponieważ próbka zawsze pozostaje skupiona i nie są wymagane żadne wstępne korekty. Dzięki funkcji pochylania głowicy możliwa jest obserwacja próbek pod różnymi kątami do ± 60 °.

Dlaczego Leica DVM6 oszczędza czas?

  • Zakres zoom 16:1 umożliwia szybką zmianę powiększenia
  • Powiększenie do 2350x umożliwia podgląd szczegółów do ​​0,4 mikrometra
  • Zakres pola widzenia wynosi od 35 mm do 0,18 mm przy tym samym poziomie ostrości
M50, M60 oraz M80

Wszystkie trzy mikroskopy umożliwiają uzyskanie porównywalnych i łatwych do śledzenia wyników przy różnych stopniach powiększenia. Zapewnia to dokładność powtarzalnych zadań, na przykład podczas inspekcji elektronicznych lub badań przesiewowych organizmów modelowych.

M50 Z krokowym powiększeniem i pięcioma stałymi stopniami zoom – 6,3x, 10x, 16x, 25x i 40x – umożliwia uzyskanie 100% powtarzalnych wyników. Rodzaj zastosowanej optyki zapewnia wysoką przepustowość światła i dużą odległość roboczą.

M60 z zakresem zoomu 6:1 i powiększeniem od 6,3x do 40x umożliwiającym powtarzalną analizę i kontrolę próbek a także pomiar przy określonej pozycji zoomu.

System ten jest zoptymalizowany pod kątem większego pola widzenia.

M80 z zakresem zoomu 8:1 ,stałym powiększeniem w przedziale od 7,5x – do 60x, system zoptymalizowany pod kątem większego powiększenia umożliwiając szczegółową obserwację w doskonałym kontraście.

Leica DM4/DM6

DM4/DM6 to zaawansowane mikroskopy w układzie prostym do obrazowania, pomiarów i analizy podobnych cech wielu próbek i analiz materiałowych.

Leica DM4 M jest manualnym systemem do rutynowej kontroli

Leica DM6 M jest w pełni zautomatyzowanym systemem do analizy materiałowej

Główne cechy i funkcje systemów

 

  • Funkcja Store&Recall do przywoływania poprzednich ustawień mikroskopu i natychmiastowego odtwarzania parametrów obrazowania dla każdego rodzaju próbki.
  • Inteligentny system automatyzacji za pomocą jednego przycisku ułatwia powtarzalną pracę, skraca czas szkolenia usprawniając przepływ pracy i uzyskanie doskonałych wyników obrazowania.
  • Odtwarzalne oznacza niezawodne
  • Mikroskopy optyczne serii DM4/DM6 zapewniają powtarzalne wyniki dzięki czemu są idealne w zastosowaniach, takich jak: ocena inkluzji w stali, analiza cząstek, analiza fazowa lub ziarnowa.
  • Dzięki Menedżerowi oświetlenia i Menedżerowi kontrastu mikroskop automatycznie rozpoznaje wybraną technikę kontrastu i obiektyw w użyciu, dokładnie otwiera i zamyka przysłonę i przysłony pola oraz dostosowuje natężenie światła.
  • Oprogramowanie pozwala na zapis i przywołanie ustawień mikroskopu i parametry kamery za pomocą Leica Microscope Assistant (moduł Leica LAS Store and Recall). Są one zapisywane i archiwizowane wraz z obrazami.
  • Leica DM6 M umożliwia korzystanie z dodatkowych modułów, takich jak Steel Expert, Cleanliness Expert, Grain Expert i Phase Expert.
  • DM6 pozwala przyspieszyć pracę dzięki ekranowi dotykowemu Leica SmartTouch lub dowolnie programowalnym przyciskom funkcyjnym na Leica DM6 M, a także za pomocą dedykowanego pilota Leica SmartMove.
  • Przejrzysty wyświetlacz pokazuje wszystkie ustawienia mikroskopu a sześć klawiszy funkcyjnych umożliwia intuicyjną obsługę bez odrywania wzroku od próbki.
  • Oświetlenie LED zapewnia najlepszą powtarzalność wyników – niezależnie od tego stosowanej techniki obserwacji. (BF), High Dynamic Darkfield (HDF), różnicowym kontrastem interferencyjnym (DIC), fluorescencyjnym (FL), czy polaryzacją (POL).
  • Podgląd próbek w stałej temperaturze barwowej przy dowolnym ustawieniu mikroskopu: Nie trzeba resetować aparatu ani regulować balansu bieli gdy zmienia się jasność.
  • Wykryj nawet najdrobniejsze szczegóły dzięki w pełni zautomatyzowanemu różnicowemu kontrastowi interferencji (DIC) i obiektywowi 1,25x Panorama
  • Leica DM4 M to ręcznie kodowany system rutynowej kontroli.

Do analizy wizualnej i chemicznej możesz zmodernizować mikroskop złożony DM6 M za pomocą systemu LIBS, a następnie mieć rozwiązanie 2 w 1 do szybkiej i precyzyjnej analizy materiału.

Leica DMi8 M

Odwrócone mikroskopy pozwalają zaoszczędzić czas i pieniądze. W przeciwieństwie do mikroskopów w pozycji pionowej, możesz po prostu umieścić próbkę bezpośrednio na stoliku, umieszczenie obiektywów po stolikiem sprawia iż nie ma obawy i uszkodzenie układu optycznego w trakcie analizy.

DMi8 posiada dużą przestrzeń roboczą aby łatwo umieszczać nawet duże i ciężkie próbki.

Dzięki swojej konstrukcji stolik umożliwia analizę próbek do 30kg.

DMi8 umożliwia wykonywanie większej ilości analiz w krótszym czasie.

Wystarczy jedno kliknięcie, aby zmienić makro (35 mm) na nano (200 nm).

Mikroskop posiada 3-pozycyjny napęd ogniskowy,umożliwiający regulowane i precyzyjne ogniskowanie przy różnych powiększeniach

Dzięki modułowej konstrukcji możliwe jest stworzenie idealnego narzędzia do indywidualnych potrzeb. Dostosuj system do swojego budżetu, aplikacji i preferencji.

DMi8 dostępny jest w wersji manualnej,kodowanej i automatycznej

Leica Microsystems oferuje wyłącznie oświetlenie 3D o ultra-kontraście. Pozwala oświetlić próbkę pod różnymi kątami, uzyskać dodatkowe informacje na temat struktury powierzchni i lepszy kontrast.

Leica DM2700 M

Kontrola, monitorowanie procesu i analiza defektów płytek krzemowych lub MEMS musi być szybka i dokładna. Leica DM2700 M oferuje wysoką rozdzielczość optyczną do wykrywania nawet najmniejszych wad próbki. Stała temperatura barwowa oświetlenia LED pozwala zawsze zobaczyć próbkę w tym samym kolorze.
Praca w laboratorium oznacza długie godziny pracy przy mikroskopie. Wysoce ergonomiczna konstrukcja mikroskopu Leica DM2700 M pomaga zapobiegać napięciu mięśniowemu i zmęczeniu oraz sprawia, że ​​rutynowa praca jest wygodna i nie stanowi żadnego wysiłku. Intuicyjna obsługa mikroskopu ułatwia pracę użytkownikom niezależnie od posiadanego doświadczenia.  

Leica DM ILM

Modułowy mikroskop odwrócony Leica DM ILM został zaprojektowany tak aby poradzić sobie z każdym zadaniem inspekcyjnym jak i pomiarowym

Wysoko wydajna optyka gwarantuje najwyższą rozdzielczość obrazu i kontrast zarówno  świetle przechodzącym, jasnym polu, metodzie kontrastu Nomarskiego, polaryzacji i fluorescencji.

Mikroskop Leica DM ILM został zaprojektowany do analizy dużych próbek i elementów oszczędzając przy tym czas na wykonywanie seryjnej kontroli i testów większych ilości próbek.

Aplikacje

W budowie

Technolutions sp. z o. o.

Otolice 38

99-400 Łowicz

 

 

tel.: +48 606 440 718

e-mail: kontakt@technolutions.pl

Technolutions 2020 © wszelkie prawa zastrzeżone

Zapraszamy na darmowe webinaria