Leica DCM8

Leica DCM8 to profilometr optyczny zaprojektowany, aby pomóc Ci zmaksymalizować wydajność, łączący zalety wysokiej rozdzielczości mikroskopii konfokalnej z interferometrią w jeden wszechstronny, system dual-core. Ultra-szybka analiza jest zapewniona dzięki wyborowi trybu przy użyciu pojedynczego kliknięcia, zaawansowanemu oprogramowaniu oraz konfokalnemu skanowaniu HD bez ruchomych części.

System pozwala na pomiar profilu powierzchni, wyznaczenie powierzchniowych lub liniowych parametrów chropowatości,  wizualizację powierzchni w 2D oraz 3D, pomiar grubości powłoki ( wykonany jako pomiar wysokości stopnia), w trakcie kilkunastu sekund


Zalety systemu Leica DCM8


Wszechstronne i dokładne spełnienie potrzeb metrologii powierzchni

  • dostosowanie odpowiedniej techniki pomiarowej do charakterystyki mierzonej próbki:
    • tryb konfokalny- dla mocno nachylonych powierzchni (do 70o) lub w przypadku wymagań dotyczących wysokiej rozdzielczości poprzecznej (do 140nm)
    • tryby interferencyjne- dla powierzchni wymagających pomiarów w sub-nanometrowej skali (rozdzielczość pionowa nawet do 0.1nm)
  • możliwość szybkiego uzyskania obrazu przy zastosowaniu mikroskopii jasnego lub ciemnego pola
  • oświetlenie przy użyciu czterech diod LED pozwala na obrazowanie RGB HD odwzorowujące rzeczywiste barwy powierzchni
  • brak konieczności przygotowania próbki
  • szybkie oraz powtarzalne, cyfrowe skanowanie konfokalne HD
  • tworzenie map topografii dużych powierzchni przy zastosowaniu automatycznego stolika XY, odpowiednich obiektywów i funkcji łączenia obrazów (stitchingu)
  • intuicyjne oprogramowanie 2D oraz 3D dla akwizycji i analizy danych
  • szeroka gama obiektywów do konfiguracji: 1.25x, 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x, 150x


Metal_surface_2_02

Niezależnie od tego czy pracujesz w produkcji lub badaniach, Leica DCM8 dostarcza dokładne i powtarzalne wyniki analiz meteorologicznych potrzebnych do zoptymalizowania wydajności materiału.

Przewiń do góry
badanie przyczepności powłok

Wyjątkowa oferta na zakup mikroskopu