WT-1200A_300x

Quasi-Steady-State µ-PCD whit Quality of Decay control (QSS µ-PCD QD)

Quality control of wafers and solar cells at different stages of production, including

  • Parameter free determination of Steady State Lifetime and Injection level
  • Surface Recombination Velocity (Smax)
  • Implied Voc
  • Emitter Saturation Current (J0)

Quasi-Steady-State μ-PCD z kontrolą jakości (QSS μ-PCD QD)

Kontrola jakości płytek i ogniw słonecznych na różnych etapach produkcji, w tym:

  • Wyznaczanie parametru Steady State Lifetime
  • Rekombinacja powierzchniowa Velocity (Smax)
  • Implikowanie Vo
  • Emiter nasycenia prądu (J0)