SW-3300 do charakteryzacji dielektryków i warstw metalicznych

sw_3300_0SW-3300 produkt Semilab AMS wykorzystuje technologię SurfaceWave™ do pomiarów grubości oraz jednolitości cienkich warstw metali i dielektryków. Jest to metoda tania, a oparte o nią urządzenia są skutecznym narzędziem zbudowanym specjalnie dla miedzi i materiałów o niskim K (współczynniku odkształcenia objętościowego).

Produkt pozwala na niedestrukcyjne oraz bezkontaktowe pomiary, ponadto jest szybki, dokładny i charakteryzuje się najniższymi kosztami w swojej klasie.