Reflektometr do jednoczesnych pomiarów współczynnika załamania i transmisji F10-RT

f10rt_detail-large

Reflektometr F10-RT zbiera spektrum współczynnika odbicia oraz transmisji poprzez jedno kliknięcie myszką. Użytkownicy systemów mogą w szybki sposób mierzyć max/min oraz kolor.

Dodatkowe moduły do pomiaru grubości i współczynnika załamania zapewniają dostęp do wszystkich możliwości systemu F20. W prosty sposób można wyeksportować i wydrukować wyniki.

W systemie F10-RTA doposażono F10-RT w dodatkowy moduł umożliwiający 70° kątowe odbicie (450-800nm) co zwiększa możliwości pomiarowe dla złożonych, cienkich filmów. Ta opcja jest niezmiernie przydatna w badaniach ogniw słonecznych i OLED. Pomiary grubości i współczynnika odbicia to standardowe opcje, w które wyposażony jest system F10-RTA.

System zawiera:

  • Zintegrowany spektrometr/źródło światła
  • Oprogramowanie FILMeasure 7.0
  • Próbka wzorcowa współczynnika odbicia BK7
  • Próbka wzorcowa współczynnika odbicia Al2O3
  • Próbka wzorcowa współczynnika odbicia Si
  • Papier do soczewek
Model Zakres grubości Zakres długości fali Standardowa wielkość plamki
F10-RT

F10-RT-EXR

F10-RT-NIR

F10-RT-UV

F10-RT-UVX

F10-RTA

F10-RTA-EXR

F10-RTA-UV

F10-RTA-UVX 

0.015-70 µm *

0.003-150 µm

0.003-40 µm

0.005-150 µm

0.005-70 µm

0.003-150 µm *

0.003-40 µm *

0.1-150 µm *

0.015-150 µm *

380-1050 nm

190-1700 nm

190-1100 nm

380-1700 nm

380-1050 nm

190-1700 nm

190-1100 nm

950-1700 nm

380-1700 nm

5000 μm

5000 μm

5000 μm

5000 μm

5000 μm

5000 μm

5000 μm

5000 μm

5000 μm

* możliwość pomiaru grubości jest opcjonalna