POMIAR GRUBOŚCI I PARAMETRÓW OPTYCZNYCH POWŁOK

§

W dziedzinach pomiar grubości powłok (pomiar grubości warstw) i ich parametrów optycznych posiadamy w ofercie urządzenia:

det-ie-ultrabam-neu

Mikroskopia kąta Brewstera (BAM) stanowi jedną z podstawowych technik mikroskopowych stosowanych w celu bezpośredniej wizualizacji monowarstw na granicy faz powietrze-woda, ale może być użyty do obserwacji na granicy faz powietrze-szkło dla konkretnych warunków. Obserwacja domen powierzchniowych przy pomocy BAM nie wymaga stosowania barwników fluorescencyjnych, a tym samym ogranicza wpływ dodatkowej substancji na zachowanie fazowe monowarstwy. Z tego względu technika BAM jest obecnie rutynowo stosowana w celu uzupełnienia charakterystyki monowarstw Langmuira.

Mikroskop Kąta Brewstera wykorzystuje zasadę, że brak odbicia zachodzi tylko pod określonym kątem padania, gdy p-spolaryzowane światło przechodzi przez granicę faz powietrze-woda,. Ten kąt, zwany jest kątem Brewstera, określany jest przez prawo Snella i zależy od współczynników załamania materiałów w układzie.

semilab_elipsometria

Elipsometria jest techniką optyczną do badania właściwości dielektrycznych (kompleksu współczynnika załamania światła lub funkcji dielektrycznej) cienkich warstw. Elipsometria mierzy zmiany polaryzacji w momencie odbicia lub transmitancji i porównuje je do modelu.

Można ją stosować do scharakteryzowania składu, chropowatości, grucić elektrycznej i innych właściwości materiałów. Jest to bardzo czuła na zmiany w odpowiedzi optycznej padającego promieniowania, które oddziałuje z materiałem badanym.

Spektroskopowe elipsometry można znaleźć w większości laboratoriów analitycznych badających cienkie warstwy. Elipsometria staje się również coraz bardziej interesująca dla naukowców z innych dziedzin, takich jak biologia i medycyna. Obszary te stanowią nowe wyzwania dla techniki, takie jak pomiary na powierzchniach niestabilnych płynnych i obrazowania mikroskopowego.

f10ar_detail-large

Reflektometry w metodzie pomiarów wykorzystują światło odbite od warstwy, a następnie analizują światło odbite w pewnym zakresie długości fal.

Zarówno elipsometry jak i reflektometry analizują światło odbite w celu określenia grubości i wyznaczenia współczynnika załamania światła przez dielektryki, półprzewodniki i cienkie warstwy metali. Podstawową różnicą pomiędzy tymi dwoma technikami jest to, że elipsometry wykorzystują światło odbite od warstwy pod małym kątem padania, natomiast reflektometry światło, które odbija się prostopadle do warstwy.

CAT2c-microscope-blue

Kulotestery to urządzenia do badań grubości powłok pojedynczych i wielowarstwowych w zakresie od 0,1 do 50µm. Powłoka jest usuwana ścierniwem podawanym ręcznie w miejsce kontaktu próbki z obracającą się stalową kulą, która wywiera stały nacisk na próbkę. Za pomocą mikroskopu optycznego odczytuje się parametry wytarcia o kształcie kulistym powłoki i na ich podstawie oblicza grubość powłoki. Proces ścierania można kontrolować poprzez regulację prędkości obrotowej kuli i jej nacisku.