Nanofilm_ep4bam jest specjalnie skonfigurowaną platformą EP4 wykorzystującą techniki elipsometryczne. To świetne rozwiązanie do badania cienkich filmów które może być ulepszone do elipsometru obrazującego. System jest w pełni automatyczny i kontrolowany za pomocą komputera z zastosowaniem opatentowanego, silnikowego układu sterowania. Nanofilm_ep4bam wyświetla obrazy próbki w czasie rzeczywistym na monitorze udostępniając odpowiednie funkcje przetwarzania obrazu. Skaner umożliwia uzyskiwanie obrazu z głębi pola i całkowicie wyostrzonego.
Połączenie zielonego lasera o wysokiej mocy z doskonałymi obiektywami pozwala uzyskać rozdzielczość rzędu 1 mikrona, czyli w granicach ograniczenia optycznego detektora CCD.
Oprogramowanie sprawia że pomiar jest łatwy i wygodny. Kompletne rozwiązanie zawiera: komputer, elektronikę i całe potrzebne  do rozpoczęcia pomiaru oprogramowanie na posiadanej wannie albo na zintegrowanej wannie. Zintegrowana wanna jest opcją dodatkową i nie jest zawarta w standardowym zestawie.

Kluczowe cechy

  • Transformacja struktur wielowarstwowych do monowarstwy
  • Reakcja fotochemiczna (np. fotoizomeryzacja)
  • Warstwy LB na stałych strukturach
  • Wpływy oz różnym składzie przejściowym (przeciwjony) na strukturach jednowarstwowych
  • Polimery i inne materiały, które nie mogą być wykryte przez mikroskopię fluorescencyjną
  • Kinetyka adsorpcji
  • Polimeryzacja in-situ w monowarstwie
  • Rozdzielenie faz
  • Jakość i jednorodność warstw LB