aRTie – Ekonomiczny system pomiaru współczynnika odbicia, transmisji i grubości cienkich powłok

aRTie_detail-large

aRTie jest przełomowym ekonomicznym reflektometrem, niezwykle prostym w użyciu. Wystarczy podłączyć urządzenie do portu USB w komputerze i jest gotowe do pracy. 40 000h czas życia lampy oraz automatyczna kalibracja spektroskopowa zapewnia rzetelne pomiary oraz łatwą obsługę.

Właściwości systemu:

  • Nie wymaga kalibracji
  • Zasilanie przez port USB. Żadne dodatkowe kable nie są wymagane
  • Spektralne pomiary R, T, R+T, A(=1-R-T), oraz koloru płaskich, lustrzanych próbek
  • Opcjonalne pomiary grubości i współczynnika załamania
  • Długości fal 380-1050nm
Model Zakres grubości Zakres długości fali Standardowa wielkość plamki
aRTie

aRTie-UV  

0.015-70 µm *

0.001-40 µm *

380-1050 nm

190-1100 nm

6000 μm

6000 μm

* możliwość pomiaru grubości jest opcjonalna