CIGS

Silny rozwój zaspołów inżynierów i naukowców pracuje w Semilab, aby wprowadzić rozwiązania dla charakteryzacji cienkich warstw ogniw słonecznych. Do tej pory, wysiłki te zaowocowały kilkoma technikami pomiarowymi na dwóch zintegrowanych platformach.

Zaawansowana wersja WT-2000PVN posiada następujące opcje:

  • Ulepszony pomiar życia
  • Bezdotykowy Eddy do pomiaru oporności ITO
  • JPV (Junction PhotoVoltage) do pomiaru oporności emitera
  • SPV (Surface PhotoVoltage) – do lokalizacji boczników

SE5-PV jest to  platforma do pomiarów kartograficznych na ogniwach słonecznych 5 GEN następującymi metodami:

  • Spektroskopią elipsometryczną mierzone sa grubość i właściwości optyczne
  • Bezdotykowy Eddy mierzy rezystancję powierzchniową ITO